PL - Laboratorium Nanostruktur
Instytut Wysokich Ciśnień PAN
EN - Laboratory of Nanostructures
Institute of High Pressure Physics PAS  

Tensjometr

Sinterface, model BPA-1P

 

Pomiar napięcia powierzchniowego

Aparat typu BPA-1P pracuje na zasadzie pomiaru ciśnień w bańce i ich zależności czasowych.

Podstawowe zalety aparatu:

  • precyzyjny pomiar napięcia powierzchniowego
  • bezpośredni pomiar czasu „życia i śmierci” kropli
  • pomiar dynamiczny międzypowierzchniowego napięcia
  • bezpośredni pomiar ciśnienia hydrostatycznego
  • pomiar temperatury cieczy
  • korekta grawitacji i lepkości cieczy
  • przedstawienie wyników w funkcji czasu fizycznego, jak również czasu skutecznej adsorpcji

 

Link do strony producenta >>>

 

Zakres napięcia powierzchniowego 10 – 100 mN/m
Powtarzalność pomiaru ± 0.1 mN/m
Dokładność pomiaru ± 0.25 mN/m
Dynamiczny zakres czasu 10 ms – 10 s
Minimalna objętość badanej cieczy 1 ml
Zakres temperatury pomiaru od 0 do 90 °C
Czas pomiaru Tryb szybki 4-6 min
Tryb normalny 20 – 35 min

 

 

Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus


Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus

 

Skaningowy mikroskop elektronowy

Jest to mikroskop z grupy "Ultra-High-Resolution Imaging". Mikroskop posiada chronioną patentami kolumnę GEMINI. Umożliwia on badanie próbki w bardzo szerokim zakresie napięć (od 20eV do 30kV) przy zachowaniu dużej zdolności rozdzielczej także przy niskich napięciach przyspieszających.

Mikroskop jest wyposażony w 2 detektory elektronów wtórnych: standardowy umieszczony w komorze SE2 oraz wewnątrzkolumnowy InLens. Dwa detektory elektronów wstecznych: pracujący od niskich napięć dedektor ESB z regulowanym napięciem na siatce, co pozwala na świadomy wybór zakresu energetycznego elektronów budujących obraz (możliwe jest uzyskanie kontrastu nie tylko od liczby atomowej, ale też np. od różnych faz tego samego pierwiastka (grafit - diament) oraz zbliżony do standardowego detektora backskaterdowego czterosegmentowy detektor AsB.

 

System mikroanalizy EDS firmy Bruker

Mikroskop jest wyposażony także w system mikroanalizy EDS firmy Bruker mod. Quantax 400 z ultraszybkim (do 300 kconts/s) detektorem o rozdzielczości energetycznej 127eV i powierzchni czynnej 30mm2 umożliwiającym detekcję od pierwiastka boru. Umożliwia to bardzo szybką pracę, zwłaszcza aplikacji typu mapping i linescan. Dodatkową zaletą dużej powierzchni czynnej detektora jest możliwość pracy z niskimi prądami wiązki, co daje małe obciążenie próbki przy dużej efektywności akwizycji widma.

 

Budowa kolumny Gemini mikroskopu Zeiss Ultra Plus

Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny
Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny Mikroskop elektronowy Zeiss Ultra Plus - budowa kolumny


Przykładowe wyniki mikroalizy EDS z mikroskopu Zeiss Ultra Plus

Mapa rozkładu pierwiastkówMapa rozkładu pierwiastkówMapa rozkładu pierwiastkówMapa rozkładu pierwiastków

Przykładowe mapy rozkładu pierwiastków

Analiza składu chemicznego złotego kolczyka

Przykładowa analiza jakościowa i ilościowa składu chemicznego - złoty kolczyk

Analiza EDS - przykład rozciągania skali i rozplatania pików

Przykład rozciągania skali i rozplatania pików

 

Koszt wykonania badania SEM/EDS:

Koszt wykonania badań wynosi 280 zł netto + VAT 23% za godzinę pracy operatora i obejmuje:

  • preparatykę próbek
  • pokrywanie powierzchni próbek cienką warstwą materiału przewodzącego dla próbek nieprzewodzących
  • wykonywanie zdjęć przy użyciu różnych detektorów
  • analizy jakościowe i ilościowe składu chemicznego
  • liniowe skany składu chemicznego
  • mapy rozmieszczenia poszczególnych pierwiastków

Na życzenie klienta możemy oszacować koszt wykonania badań dla jednej próbki po dokładnym zapoznaniu się z wymaganiami klienta, zakresem wykonywanej pracy, ilością badanych miejsc na próbce, zapotrzebowaniem na określoną liczbę zrobionych zdjęć, analiz, skanów liniowych, mappingów.

 

Warunki wykonania badania SEM/EDS:

  1. Preferujemy obecność klienta w czasie wykonywania badań. Ułatwia to doprecyzowanie zakresu pracy. Klient ma wówczas możliwość:

    • bezpośredniej obserwacji wykonywanej preparatyki i przebiegu samego badania
    • wpływu na wybór miejsc analizowanych
    • rozszerzenia zakresu badań o dodatkowe czynności i analizy
    • omówienia na miejscu wyników badań

    Zdjęcia, analizy, raporty z badań klient otrzymuje od nas na poczekaniu w postaci plików zapisywanych na nośniku pamięci lub przesyłanych na wskazany adres mailowy.

  2. Możliwe jest przesłanie do nas próbek pocztą lub kurierem z dokładnym opisem zakresu pracy. Wówczas termin wykonania badań to około 15 dni roboczych od dnia otrzymania próbek. Czas ten może ulec zmianie po konsultacji telefonicznej z klientem lub na podstawie wcześniejszych uzgodnień. Sprawozdania i wyniki badań przesyłane są w wersji elektronicznej na wskazany adres mailowy.

 

Kontakt telefoniczny (22 888-02-34) jest obecnie nieco utrudniony. Zachęcam do kontaktu mailowego:

Jan Mizeracki -

 

 

 

Proszkowy dyfraktometr rentgenowski

 

Badania składu fazowego

 

Panalytical, model X’Pert PRO

Panalytical, model X’Pert PRO system dyfrakcji promieni X jest podstawową platformą o szerokich zakresach zastosowań w analizie dyfrakcji rentgenowskiej zarówno do badań naukowo-badawczych jak i do badań przemysłowych. Ultraszybki detektor PIXcel został oparty na technologii Medipix2. Technologia solid-state zapewnia zliczenie fotonów w wysokich przestrzennych częstotliwościach oraz w wysokich zakresach dynamicznych.

PlXcel może być stosowany jako detektor liniowy lub jako detektor punktowy dla statycznych lub dynamicznych zastosowań. Dyfraktometr proszkowy, pracuje z lampą miedziową (promieniowanie o długości 1.54Å) w geometrii wiązki zbieżnej Bragg-Brentano lub wiązki równoległej (z lustrem Goebla) wyposażony w przystawki temperaturowe umożliwiające pomiar w zakresie -180 do 350º C.

Link do strony producenta >>>

 
 

 

Dyfraktometr proszkowy jest wykorzystywany do:

  • analizy fazowej proszków
  • analizy próbek na kapilarach szklanych
  • pomiarów tekstury
  • pomiar paraleli wiązki na cienkich i szorstkich próbkach
  • mikro-dyfrakcji
  • odbicia
  • wysokiej rozdzielczości krzywej wahania i wzajemnego mapowania przestrzennego


Bruker, model D8

Unikalny dyfraktometr wyposażony w lampę srebrną, zwierciadło Goebla i ultraszybki detektor LynxEue. Dyfraktometr służy do wykonywania zaawansowanych badań strukturalnych materiałów nanometrycznych. W szczególności z uwagi na lampę srebrową służy do obliczeń PDF (Pair Distribution Function) czyli odległości miedzyatomowych. Dyfraktometr służy również do analizy jonowej oraz do zaawansowanych badań tekstury. Dostępna jest też przystawka temperaturowa umożliwiająca pomiary do temperatury 1000ºC

 

 

 

 

Pomiary rozkładu wielkości cząstek przy pomocy : urządzenia Zetasizer-ZS z automatycznym systemem titracji

 

Zapraszamy serdecznie do skorzystania z naszej oferty pomiarów za pomocą urządzenia Zetasizer-ZS z automatycznym systemem titracji MPT-2.
Analizator Zetasizer Nano-ZS oparty jest na technologii dynamicznego rozproszenia światła (dynamic light scattering - DLS) i może mierzyć trzy wielkości charakteryzujące cząsteczki czy molekuły w dyspersjach cieczowych:

  • wielkość cząsteczek
  • potencjał zeta
  • masę cząsteczkową

System Zetasizer wyposażony jest w titrator MPT-2 umożliwia to określenie punktu denaturyzacji białek, a także umożliwia wykonanie tzw. pomiarów trendu oraz miareczkowania i dozowania.
Urządzenie to umożliwia badanie roztworów koloidalnym oraz zawiesin zawierających różnego rodzaju materiały, miedzy innymi:

  • nanoproszki
  • bioceramiki
  • pigmenty
  • polimery

Dlaczego nasza oferta jest najbardziej efektywna i najkorzystniejsza? Dlatego, że oferujemy Państwu pomiary na urządzeniu najnowszej generacji specjalnie stworzonej do badania cząstek nanometrycznych. Dodatkowo oferujemy pomiary komplementarne na podobnym urządzeniu starszego typu Analizator Zetasizer 3000, Malvern oraz dodatkowo pomiar wielkości cząstek metodą NTA „Nanoparticle Tracking Analysis” detekcji i wizualizacji indywidualnych nanocząstek w zawiesinie, która dostarcza informacji o rozmiarze, dystrybucji rozkładu i koncentracji cząstek na urządzeniuNanosight, Model NS500.
Posiadanie tych trzech urządzeń pomiarowych pozwala nam na wyciągnięcie z pomiarów maksymalnej ilości informacji o badanych roztworach koloidalnych i zawiesinach.

Parametry techniczne urządzenia:

 

Zetasizer Nano ZS
Pomiar wielkości

Zakres wielkości cząsteczek

0,6 nm – 6 µm
Minimalna objętość 12 μL
Zakres stężeń cząsteczek od 0,00001%w do 40%w
Kąt pomiaru 173°
Pomiar Zeta potencjału Zakres wielkości cząsteczek 5 nm ÷ 100 μm
Zakres nie ma realnych ograniczeń
Minimalna objętość 0.75 mL
Maksymalna przewodność 200 mS/cm
Mobilność ±10 µcm/Vs
Zakres pH 1 - 14
Pomiar masy cząsteczkowej Zakres wielkości 1•103 - 2•107 Daltonów
Minimalna objętość dla pomiaru ręcznego 12 μL
Minimalna objętość dla pomiaru z automatem miareczkującym MPT-2 3 mL
Automatyczny pomiar trendu Program standardowy np. w funkcji czasu i pH
Pomiar automiareczkującym MPT-2 z odgazowywaczem Np. w funkcji pH, przewodności i zawartości dodatku
Temperaturowy zakres pomiarów 2ºC - 90ºC
Laser 4mW He-Ne, 633nm
Klasa lasera klasa 1 wg
EN 60825-1:2001 i
klasa 1 wg CDRH